By Professor Dr.-Ing. Heinrich Niemann (auth.)
Das vorliegende Buch behandelt die Klassifikation von Mustern, d.h. die Zuordnung genau einer von mehreren m|glichen Klassen oder Bedeutungen zu einem Muster. In einer umfassenden Darstellung werden alle Aspekte der Vorverarbeitung, Merkmalgewinnung und Klassifikation behandelt. Die zugrundeliegenden Prinzipien werden sorgf{ltig erl{utert, wobei insbesondereauch neuere Entwicklungen im Bereich der Ermittlung und Auswahl von Merkmalen und im Bereich der auf dynamischerProgrammierung beruhenden Klassifikation er|rtert werden.
Read Online or Download Klassifikation von Mustern PDF
Best german_5 books
Relationale Datenbanken: Eine Einführung für die Praxis
Die Fachbrosch}re gibt eine umfassende Einf}hrung in das Gebiet der relationalen Datenbanken. Bei der Datenmodellierung werden Abbildungsregeln zum ]berf}hren eines Entit{ten-Beziehungsmodells in ein relationales Datenbankschema behandelt, Normalformen diskutiert und ein unternehmensweites Datenmodell veranschaulicht.
- Über ein Ozon — Registriergerät und Untersuchung der Zeitlichen und Räumlichen Variationen des Troposphärischen Ozons auf der Nordhalbkugel der Erde
- Komplexe Produkte einfach steuern: Das Konzept Fortschrittszahlen
- Informatik: Aufgaben und Lösungen Zweiter Teil
- Singularitäten
Extra resources for Klassifikation von Mustern
Example text
Zu einer Kontrastverbesserung im Bild. 68) = I, also eine + 3 x 3 Nachbarschaft, und a = 1 oder 1)) gewählt wird. 69) und wenn es möglich ist, mehrere Realisationen von Pf, P = 1, ... 70) über die beobachteten Muster zu reduzieren. Dieser Fall tritt vor allem bei periodisch sich wiederholenden Vorgängen auf, wie zum Beispiel im Geräusch einer rotierenden Maschine oder im Strahlungsbild des schlagenden Herzens bei nuklearmedizinischen Aufnahmen. Natürlich muß die Aufnahme von Pf genau mit dem periodischen Vorgang synchronisiert werden.
76,77). Dabei ist e ein Schwellwert. Der Funktionsverlauf f(x) eines eindimensionalen Musters oder die Kontur eines zweidimensionalen Musters f(x,y) vor einem Hintergrund lassen sich als Linienmuster mit einer Breite von einem Rasterpunkt auffassen. Der Funktionsverlauf wird wie üblich durch die Folge der diskreten Werte f j , j = 1, ... ,M dargestellt und die Kontur durch die Folge der Koordinatenpaare (x j , Yj)' j = 1, ... ,M von den Punkten, die auf der Kontur liegen, wobei die Kontur vom Startpunkt (x 1'Yl) ausgehend zum Beispiel so umlaufen wird, daß das Muster rechts liegt.
Vorausgesetzt es gibt M- 1 Minima. 29-31) sich sofort auf mehr als zwei Klassen verallgemeinern lassen. 32) wird 38 J l (1), ••. 33) aus den Werten l*(l), ... 37) maximiert wird. Allerdings wird die erforderliche Suche mit wachsendem M immer aufwendiger, so daß das Verfahren auf M= 2 oder M= 3 beschränkt sein dürfte. 16-20] enthalten. 36). Es sei noch erwähnt, daß Schwellwertoperationen nicht nur für relativ einfache Muster nützlich sind. 21] wird ein Segmentierungsverfahren für Farbbilder beschrieben, das auf der wiederholten Anwendung von Schwellwertoperationen auf ausgewählte Bildbereiche beruht.